露點儀(yi)是能直接測(ce)出(chu)露點濕度(du)(du)的(de)儀(yi)器。使(shi)一(yi)個鏡(jing)面(mian)(mian)處(chu)在樣(yang)品濕空氣中降溫(wen)，直到鏡(jing)面(mian)(mian)上隱現露滴（或冰晶(jing)）的(de)瞬間，測(ce)出(chu)鏡(jing)面(mian)(mian)平均溫(wen)度(du)(du)，即(ji)為露點（霜(shuang)）溫(wen)度(du)(du)。它(ta)測(ce)濕精度(du)(du)高，但(dan)需光(guang)潔度(du)(du)很(hen)高的(de)鏡(jing)面(mian)(mian)，精度(du)(du)很(hen)高的(de)溫(wen)控系統，以(yi)及(ji)靈敏度(du)(du)很(hen)高的(de)露滴（冰晶(jing)）的(de)光(guang)學探測(ce)系統。使(shi)用時必須使(shi)吸入樣(yang)本空氣的(de)管(guan)道保持(chi)清潔，否則管(guan)道內的(de)雜(za)質將吸收(shou)或放出(chu)水分造成測(ce)量誤(wu)差。 露點儀的分類：
1、鏡面式
不(bu)同水份(fen)含量(liang)的(de)氣體(ti)(ti)在(zai)不(bu)同溫度下(xia)的(de)鏡(jing)(jing)面上會結露(lu)(lu)(lu)。采用(yong)(yong)光(guang)電檢測(ce)技術，檢測(ce)出(chu)露(lu)(lu)(lu)層(ceng)并測(ce)量(liang)結露(lu)(lu)(lu)時的(de)溫度，直接顯示露(lu)(lu)(lu)點(dian)。鏡(jing)(jing)面制(zhi)冷(leng)(leng)的(de)方(fang)法有：半導體(ti)(ti)制(zhi)冷(leng)(leng)、液氮(dan)制(zhi)冷(leng)(leng)和(he)高(gao)壓空(kong)氣制(zhi)冷(leng)(leng)。鏡(jing)(jing)面式(shi)露(lu)(lu)(lu)點(dian)儀采用(yong)(yong)的(de)是(shi)直接測(ce)量(liang)方(fang)法，在(zai)保證(zheng)檢露(lu)(lu)(lu)準確、鏡(jing)(jing)面制(zhi)冷(leng)(leng)高(gao)效率和(he)精密測(ce)量(liang)結露(lu)(lu)(lu)溫度前(qian)提(ti)下(xia)，該種露(lu)(lu)(lu)點(dian)儀可(ke)作為標準露(lu)(lu)(lu)點(dian)儀使(shi)用(yong)(yong)。目前(qian)國際上*高(gao)精度達到±0.1℃(露(lu)(lu)(lu)點(dian)溫度)，一般精度可(ke)達到±0.5℃以內電傳感(gan)器(qi)式(shi)露(lu)(lu)(lu)點(dian)儀。
采(cai)用親水(shui)性材料(liao)或(huo)憎水(shui)性材料(liao)作(zuo)為介(jie)質，構(gou)成電(dian)(dian)容(rong)或(huo)電(dian)(dian)阻，在含(han)水(shui)份的氣(qi)體(ti)流經后，介(jie)電(dian)(dian)常數或(huo)電(dian)(dian)導率發生相應變化，測出當時的電(dian)(dian)容(rong)值或(huo)電(dian)(dian)阻值，就能知道當時的氣(qi)體(ti)水(shui)份含(han)量。建(jian)立在露(lu)點單位制上(shang)設計的該類傳感(gan)器(qi)，構(gou)成了(le)電(dian)(dian)傳感(gan)器(qi)式露(lu)點分析儀。目前(qian)國際上(shang)*高精(jing)度達到±1.0℃(露(lu)點溫度)，一般精(jing)度可達到±3℃以內。
2、冷(leng)鏡法
也是(shi)一(yi)種經典的(de)(de)測(ce)量方法。讓樣(yang)氣(qi)流經露(lu)點(dian)冷(leng)(leng)鏡(jing)室的(de)(de)冷(leng)(leng)凝(ning)(ning)鏡(jing)，通過等(deng)壓制冷(leng)(leng)，使得樣(yang)氣(qi)達到飽和(he)結露(lu)狀態(冷(leng)(leng)凝(ning)(ning)鏡(jing)上有液(ye)滴析出)，測(ce)量冷(leng)(leng)凝(ning)(ning)鏡(jing)此時的(de)(de)溫度(du)即是(shi)樣(yang)氣(qi)的(de)(de)露(lu)點(dian)。該方法的(de)(de)主要(yao)優點(dian)是(shi)精(jing)度(du)高，尤其(qi)(qi)在采用半導體制冷(leng)(leng)和(he)光電檢(jian)測(ce)技術后，不確定度(du)甚(shen)至可達0.1℃；缺點(dian)是(shi)響(xiang)(xiang)應速度(du)較(jiao)(jiao)慢，尤其(qi)(qi)在露(lu)點(dian)-60℃以下，平衡時間甚(shen)至達幾(ji)個小時，而且(qie)此方法對樣(yang)氣(qi)的(de)(de)清潔性(xing)和(he)腐蝕性(xing)要(yao)求也較(jiao)(jiao)高，否則會影響(xiang)(xiang)光電檢(jian)測(ce)效果(guo)或產生‘偽結露(lu)’造成(cheng)測(ce)量誤差。
3、阻容法
是一(yi)種不斷完善的(de)濕(shi)度(du)測量方法。利(li)用一(yi)個(ge)高純鋁(lv)(lv)棒(bang)，表面氧(yang)(yang)化成(cheng)一(yi)層(ceng)超(chao)薄(bo)的(de)氧(yang)(yang)化鋁(lv)(lv)薄(bo)膜(mo)，其外鍍一(yi)層(ceng)多(duo)空的(de)網(wang)狀(zhuang)金膜(mo)，金膜(mo)與鋁(lv)(lv)棒(bang)之間形(xing)成(cheng)電容(rong)，由于氧(yang)(yang)化鋁(lv)(lv)薄(bo)膜(mo)的(de)吸水(shui)特(te)性(xing)，導致電容(rong)值隨樣氣(qi)(qi)水(shui)分的(de)多(duo)少(shao)而(er)改變，測量該電容(rong)值即(ji)可得到(dao)樣氣(qi)(qi)的(de)濕(shi)度(du)。該方法的(de)主要優點(dian)是測量量程可更(geng)低(di)，甚至達(da)-100℃，另一(yi)突(tu)出優點(dian)是響應(ying)速度(du)非常(chang)快從干到(dao)濕(shi)響應(ying)一(yi)分鐘(zhong)可達(da)90%，因而(er)多(duo)用于現場和快速測量場合；缺點(dian)是精度(du)較(jiao)差，不確定度(du)多(duo)為±2～3℃。老化和漂(piao)移嚴重，使用3~6個(ge)月必(bi)須校準(zhun)。
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更新時間：2022-05-19 
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